| Детальна статистика спеціальності за 2024 рік |
| № | ПІБ | Стан | П | Бал | Деталізація | КО | КВ | Тип | Д |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 1 | Ів### | До наказу (бюджет) | 1 | 166.600 |
Іноземна мова (англійська, німецька, французька або іспанська)
162
ТЗНК
179
Фахове випробування (Мікро- та наноелектроніка)
164
|
ГК | Б | + | |
| 2 | Ор### | До наказу (бюджет) | 1 | 163.000 |
Іноземна мова (англійська, німецька, французька або іспанська)
188
ТЗНК
165
Фахове випробування (Мікро- та наноелектроніка)
154
|
ГК | Б | + | |
| 3 | Са### | До наказу (бюджет) | 2 | 147.400 |
Іноземна мова (англійська, німецька, французька або іспанська)
152
ТЗНК
165
Фахове випробування (Мікро- та наноелектроніка)
140
|
ГК | Б | + | |
| 4 | Юх### | До наказу (бюджет) | 2 | 147.000 |
Іноземна мова (англійська, німецька, французька або іспанська)
140
ТЗНК
175
Фахове випробування (Мікро- та наноелектроніка)
140
|
ГК | Б | + | |
| 5 | Ме### | До наказу (бюджет) | 2 | 146.600 |
Іноземна мова (англійська, німецька, французька або іспанська)
148
ТЗНК
153
Фахове випробування (Мікро- та наноелектроніка)
144
|
ГК | Б | + | |
| 6 | Пр### | До наказу (бюджет) | 2 | 146.400 |
Іноземна мова (англійська, німецька, французька або іспанська)
182
ТЗНК
175
Фахове випробування (Мікро- та наноелектроніка)
125
|
ГК | Б | + | |
| 7 | Па### | До наказу (бюджет) | 1 | 145.600 |
Іноземна мова (англійська, німецька, французька або іспанська)
152
ТЗНК
165
Фахове випробування (Мікро- та наноелектроніка)
137
|
ГК | Б | + | |
| 8 | Ла### | Відхилено (контракт) | 2 | 124.800 |
Іноземна мова (англійська, німецька, французька або іспанська)
150
ТЗНК
159
Фахове випробування (Мікро- та наноелектроніка)
105
|
ГК | Б | – | |
| 9 | Бу### | Деактивовано (зарах. на бюджет) Рек. за пріор. #1 |
2 | 173.400 |
Іноземна мова (англійська, німецька, французька або іспанська)
154
ТЗНК
179
Фахове випробування (Мікро- та наноелектроніка)
178
|
ГК | Б | – | |
| 10 | Га### | Деактивовано (зарах. на бюджет) Рек. за пріор. #1 |
2 | 173.200 |
Іноземна мова (англійська, німецька, французька або іспанська)
157
ТЗНК
175
Фахове випробування (Мікро- та наноелектроніка)
178
|
ГК | Б | – |